JSM award

Taichi Kusumi
久住　太一

所属：東京大学大学院新領域創成科学研究科複雑理工学専攻 岡田研究室
居室：柏の葉キャンパス基盤棟　7A4
E-mail：kusumi[depth]mns.k.u-tokyo.ac.jp (Please insert @ instead of [depth].)
English site is here.

Academic Career

2018 Apr. 東京大学理科一類　入学
2022 Sep. 東京大学文学部人文学科　哲学専修　卒業
2022 Oct. 東京大学大学院新領域創成科学研究科　複雑理工学専攻　修士課程　入学
2024 Mar. 東京大学大学院新領域創成科学研究科　複雑理工学専攻　修士課程　修了
2024 Apr. 東京大学大学院新領域創成科学研究科　複雑理工学専攻　博士課程　入学
2024 Apr. 東京大学「グリーントランスフォーメーションを先導する高度人材育成（SPRING GX）」プロジェクト（BOOST NAISに移行）
2024 Apr. 東京大学「次世代知能社会を先導する高度AI人材育成（BOOST NAIS）」プロジェクト

Publication

  1. T. Shimomiya, T. Kusumi, Y. Yokoyama, M. Uesugi, A. Takeuchi, Y. Sada, H. Shouno, M. Okada, "Computed Tomography Reconstruction Algorithm Using Markov Random Field Model," under review. https://doi.org/10.48550/arXiv.2605.11637
  2. T. Kusumi, H. Ueda, T. Futazuka, M. Hanai, S. Katakami, K. Kawahara, R. Ishikawa, N. Shibata, "Three-dimensional deconvolution for large-angle illumination annular dark-field scanning transmission electron microscopy depth sectioning," under review.
  3. T. Kusumi, S. Katakami, R. Ishikawa, K. Kawahara, T. Mullarkey, J. M. Bekkevold, J. J. P. Peters, L. Jones, N. Shibata, M. Okada, "New Poisson denoising method for pulse-count STEM imaging," Ultramicroscopy, 264, 2024, 113996. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2024.113996
  4. T. Kusumi, S. Katakami, R. Ishikawa, K. Kawahara, N. Shibata, M. Okada, "Fast Reconstruction of Scanning Transmission Electron Microscopy Images Using Markov Random Field Model," Ultramicroscopy, 253, 2023, 113811. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2023.113811

International conference

  1. （査読有り・ポスター・申込受理済み） T. Kusumi, H. Ueda, T. Futazuka, M. Hanai, S. Katakami, K. Kawahara, R. Ishikawa, N. Shibata, and M. Okada, "Three-dimensional deconvolution for ADF-STEM depth sectioning imaging," The 21st International Microscopy Congress 2026, Liverpool, UK, September 2026.
  2. （査読有り・口頭） T. Kusumi, H. Ueda, T. Futazuka, M. Hanai, S. Katakami, K. Kawahara, R. Ishikawa, N. Shibata, and M. Okada, “Characterization of surface and sub-surface atomic structures by three-dimensional deconvolution for ADF-STEM depth sectioning imaging,” MRS Spring Meeting, Honolulu, Hawaii, USA, May 2026.
  3. （査読有り・口頭） T. Kusumi, H. Ueda, T. Futazuka, M. Hanai, S. Katakami, K. Kawahara, R. Ishikawa, N. Shibata, and M. Okada, “Three-dimensional Deconvolution Algorithm for ADF-STEM Depth Sectioning Imaging,” MRS Fall Meeting, Boston, Massachusetts, USA, December 2025.
  4. （査読有り・口頭） T. Kusumi, H. Ueda, T. Futazuka, M. Hanai, S. Katakami, K. Kawahara, R. Ishikawa, N. Shibata, and M. Okada, “Three-dimensional deconvolution for large-angle illumination ADF-STEM depth sectioning,” Microscopy and Microanalysis 2025, Salt Lake City, Utah, USA, July 2025.
  5. （査読有り・口頭・共著者） J. M. Bekkevold, T. Kusumi, G. Varnavides, J. J. P. Peters, R. Ishikawa, N. Shibata, and L. Jones, “Segmented Detector Digitization and the Role of Denoising for Increasing Achievable Temporal Resolution in Phase Characterization,” Microscopy and Microanalysis 2025, Salt Lake City, Utah, USA, July 2025.
  6. （査読有り・口頭） T. Kusumi, S. Katakami, R. Ishikawa, K. Kawahara, N. Shibata, and M. Okada, “Live Denoising for High Spatiotemporal-resolution STEM Imaging Using Markov Random Field Model,” 13th Asia Pacific Microscopy Congress 2025, Brisbane, Australia, February 2025.
  7. （査読有り・ポスター） T. Kusumi, S. Katakami, R. Ishikawa, K. Kawahara, N. Shibata, and M. Okada, “Real-time Denoising Algorithm for STEM Imaging Using Markov Random Field Model,” Microscopy and Microanalysis 2024, Cleveland, Ohio, USA, July 2024.

Domestic conference

  1. （査読無し・口頭・共著者） 二塚俊洋，石川亮，川原一晃，久住太一，華井雅俊，柴田直哉，「全三階二乗変動正則化法による高速原子分解能電子顕微鏡像のノイズ除去」，日本顕微鏡学会，宮城，2025年5月．
  2. （査読無し・口頭） 久住太一，佐々野駿，石川亮，柴田直哉，岡田真人，「大収束角深さ断層STEM法に対する収差補正手法の開発」，日本顕微鏡学会，宮城，2025年5月．
  3. （査読無し・口頭・共著者） 下宮大河，久住太一，横山優一，上椙真之，竹内晃久，佐田祐樹，庄野逸，岡田真人，「マルコフ確率場モデルに基づくCT再構成アルゴリズムの開発と評価」，日本物理学会2026年春季大会，オンライン，2026年3月．
  4. （査読無し・口頭） 久住太一，上田朔，二塚俊洋，華井雅俊，片上舜，川原一晃，石川亮，柴田直哉，岡田真人，「深さ断層STEM法に対する3次元逆畳み込み手法の開発」，日本顕微鏡学会，福岡，2025年6月．
  5. （査読無し・ポスター） 久住太一，片上舜，石川亮，川原一晃，柴田直哉，岡田真人，「マルコフ確率場モデルに基づくSTEM像の実時間修復」，日本顕微鏡学会若手シンポジウム，九州大学，福岡，2024年10月．
  6. （査読無し・口頭） 久住太一，片上舜，石川亮，川原一晃，柴田直哉，岡田真人，「マルコフ確率場モデルに基づくSTEM像の実時間修復」，日本顕微鏡学会，千葉，2024年6月．

Awards

  1. The 21st International Microscopy Congress 2026, IFSM Young Scientist Assembly, May, 2026. [Link]
  2. SPRING-GX国際会議派遣プログラム，2025年10月．
  3. SPRING-GX国際会議派遣プログラム，2025年7月．
  4. SPRING-GX国際会議派遣プログラム，2024年12月．
  5. 2024年度日本顕微鏡学会若手シンポジウム, 優秀ポスター賞, 2024年10月.
  6. 風戸研究奨励会国際会議発表渡航助成，2024年4月．
    電子顕微鏡並びに関連装置の研究・開発及び電子顕微鏡並びに関連装置を用いた研究（医学，生物学，物理学，化学，材料学，ナノテクノロジー，その他）に携っている研究者を対象とした渡航助成．最大50万円の助成が与えられる． [Link]
  7. Microscopy and Microanalysis 2024, Student Scholar Award, April, 2024.
    国際学会Microscopy and Microanalysisに応募した学生の中から少数名が選ばれる賞．2024年は200名以上の応募があった．受賞者には最大$1,000の参加費援助が与えられる．[Link]

Others

  1. 2025年度日本学術振興会特別研究員（DC2）採用内定（BOOST NAISに採択中のため辞退）．
  2. （修士課程短縮修了）新領域創成科学研究科複雑理工学専攻において修士短縮修了特別審査に合格し，半年間の短縮終了が認められた．
  3. （ソフトウェア実装）マルコフランダムフィールドモデルを用いたリアルタイム画像修復プログラムを開発し，電子顕微鏡関連データの解析ソフトウェアDigitalMicrograph(Gatan Inc.)に実装した．
  4. （特許出願）岡田真人（17%），片上舜（17%），久住太一（16%），柴田直哉（17%），石川亮（17%），川原一晃（16%），マルコフランダムフィールドモデルを用いた電子顕微鏡画像の画像修復装置，特願2023-75963，2023年5月2日出願．